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Paulo Jorge Quaresma, Adriano Lopes, Pedro Medeiros, Bruno Preto, Alexandre Velhinho
A caracterização micro-estrutural de materiais compósitos utiliza a tomografia de raios X para capturar informação sobre as características internas das amostras, de forma a elucidar o investigador sobre as suas propriedades intrínsecas. Os dados tomográ...
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