AVANZADA

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Effect of Oxide Thickness on GaN-based Double Gate MOSFETs

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Safayet Ahmed, Md. Tanvir Hasan Pág. 83 ? 88

Revista: AIUB Journal of Science and Engineering Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 16 Num: 2 Par: 0 Año: 2017

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