1   Artículos

« Anterior     Página: 1 de 1     Siguiente »

 
en línea
Zehua Gao, Wei Ma, Sijiang Huang, Peiyao Hua and Chuwen Lan    
A field emission scanning electron microscope (FESEM) is a complex scanning electron microscope with ultra-high-resolution image scanning, instant printing, and output storage capabilities. FESEMs have been widely used in fields such as materials science... ver más
Revista: AI    Formato: Electrónico

« Anterior     Página: 1 de 1     Siguiente »